可搭配CCS PRIMA/CCS OPTIMA+控制器
STIL光谱共焦控制器采样频率100Hz-10KHZ
量程范围100umm-10000um
直径：4mm 、6mm、8mm
径向出光、轴向出光
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
根据实际测量需求，可选配单通道、双通道、四通道控制器
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的
适用于狭缝、盲孔、内腔测量

ZENITH控制器最新推出
采样频率2KHZ/5KHZ
采用以太网口、RS422口通讯
支持三路编码器信号触发
支持两路IO信号输入和输出
可搭配CL系列、OP系列、ENDO系列、EVEREST系列探头

可搭配CCS PRIMA/CCS OPTIMA+/ZENITH控制器
STIL光谱共焦控制器采样频率最高可达10KHZ
量程范围100um-24000um
精度最高可达到14nm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
根据实际测量需求，可选配单通道、双通道、四通道控制器
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的。

可搭配STIL CCS PRIMA/CCS OPTIMA+/ZENITH控制器
采样频率最高可达10KHZ
量程范围1mm、2mm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
样品最大倾斜角可达±44度
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的
适用于3D曲面玻璃轮廓检测、点胶高度测量

stil光谱共焦控制器多达12个同步测量点
传感器适合用于任何环境
控制器适用于STIL各种类型的光笔测头

STIL光谱共焦线扫传感器高速测量(30000点/秒)
控制器由千兆以太网进行数据传输
测头高分辨率，高精度
光谱共焦可测量任何材料
对外部环境光线不敏感
最大线率是2000lines/秒
由180个点投射到样品表成为一条线
适合用于各种材料:金属（抛光或者粗糙）、玻璃、陶瓷、塑料、硅

搭配STIL DUO控制器同步测量技术:共焦色散和白光光谱干涉法
DUO控制器采样频率100Hz-10KHZ
适用卤素灯
可以处理大量测量范围拥有从130μm- 42mm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
最多可以测量10层不同折射率透明或半透明样品
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的。

OP系列STIL光谱共焦传感器主要用于超大工作距离的环境，避免传感器受到损害
可搭配STIL CCS PRIMA+控制器
采样频率最高可达2KHZ
量程范围220umm-20000um
安装距离5mm-451mm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的
推荐测量玻璃厚度的主要光学笔有:OP6000;OP8000;OP10000;NCTP