可搭配CCS PRIMA/CCS OPTIMA+/ZENITH控制器
STIL光谱共焦控制器采样频率最高可达10KHZ
量程范围100um-24000um
精度最高可达到14nm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
根据实际测量需求，可选配单通道、双通道、四通道控制器
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的。

可搭配CCS PRIMA/CCS OPTIMA+控制器
STIL光谱共焦控制器采样频率100Hz-10KHZ
量程范围100umm-10000um
直径：4mm 、6mm、8mm
径向出光、轴向出光
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
根据实际测量需求，可选配单通道、双通道、四通道控制器
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的
适用于狭缝、盲孔、内腔测量

可搭配STIL CCS PRIMA/CCS OPTIMA+/ZENITH控制器
采样频率最高可达10KHZ
量程范围1mm、2mm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
样品最大倾斜角可达±44度
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的
适用于3D曲面玻璃轮廓检测、点胶高度测量

STIL光谱共焦线扫传感器高速测量(30000点/秒)
控制器由千兆以太网进行数据传输
测头高分辨率，高精度
光谱共焦可测量任何材料
对外部环境光线不敏感
最大线率是2000lines/秒
由180个点投射到样品表成为一条线
适合用于各种材料:金属（抛光或者粗糙）、玻璃、陶瓷、塑料、硅

ZENITH控制器最新推出
采样频率2KHZ/5KHZ
采用以太网口、RS422口通讯
支持三路编码器信号触发
支持两路IO信号输入和输出
可搭配CL系列、OP系列、ENDO系列、EVEREST系列探头

将共焦共焦原理和白光光谱干涉法完美结合
首次使机构震动对测量的结果不产生影像
不需要垂直扫描
达到亚纳米级分辨率，最小可测厚度 0.4 μm的透明体厚度
传感器自身原理可达纳米级分辨率
共焦可以保证点与点之间不出在相互干扰
超高测量精度，厚度测量时达到0.3nm分辨率,10nm 测量精度

NCG是基于红外干涉技术的测厚传感器，传感器发出的光波在被测物体不同表面进行反射，并发生干涉，由此可以计算出两个表面之间的厚度。该传感器可用于控制不同类型零件的厚度，包括玻璃、塑料和硅片。使用红外光源时，也可以测量非透明材料。我们的传感器可有效改善机床节拍，保证成品质量，并对关键步骤的全程及其前后进行过程控制。NCG是一种高速精密测量传感器，可连接到机床上，以实现精确、快速的零件厚度控制。在技术资料规定范围内，NCG可以安装在夹具上，也可以安装在机床内，无论是干燥或潮湿环境中均可使用。

.可测量直径范围0.06-38mm
.多种测量模式和类型
.可重复性高达0.07 μm
.扫描频率为1500hz
.出色的的重复性，优秀的线性度
.永久自校准功能
.可直接连接PC、PLC、数控系统,读取和同步正交编码器的输入
.电机采用流体动力轴承技术
.NO-VAR:主动热补偿
.直接连接到Internet浏览器
.能够存储不同的应用程序,支持二次编程
.

一款具有力控能力的位移测量传感器
应用于接触式尺寸测量，可控制测量接触力，无需重锤式下落
集测量速度控制，测量接触力控制，测量动作执行，位移数据获取于一体
完美解决软质工件接触式控力测尺寸的工艺难题
应用领域：软包电池厚度尺寸测量，柔性材料应变测量

• 半桥式（HBT）和全桥式（LVDT）传感器；
• 五种标准测量范围：1mm，2mm，5mm，10mm，20mm；
• 作动与回位方式: 弹簧、气压或真空方式；
• 模拟连接：马波斯标准接头，或与全球他牌电子装置兼容的接头；
• 数字连接：连接马波斯Digi Crown网络系统；
• USB接口：可直接与电脑连接；