STIL光谱共焦线扫传感器

STIL光谱共焦线传感器原理图

STIL MPLS-DM包含该了180个独立的光谱共焦通道，每个通道测量样品表面上的单个点，并包含自己的点源，针孔和光谱仪。

在MPLS-DM中，控制器和光学头通过连个光纤束连接。

第一束将控制器的内部光源连接到镜头的入射面；

180束光纤电缆的尖端成为180个通道点光源。

第二束连接光谱仪输出平面；180根光纤的尖端实现了180个通道的针孔。

STIL光谱共焦线扫传感器技术参数

备注：

.测量范围（MR）,表中的数值是一台MPLS的标称值；

.工作距离,是光学头至测量范围开始端之间的距离，表中数值是典型值；

.最大线性误差,是将传感器测得的距离长度与1nm编码器测得的长度进行比较，观察到的最大误差。该步骤可位于MR内部任何位置。出厂校准后立刻在如下条件下测量此功能：

-每套通道的测量进行平均，以消除静态噪声;

-信号电平较高，但不饱和;

.最大样品斜度，光轴和局部表面坡度之间的最大夹角。最大可测倾斜角适用于镜面（镜状样品）表面。散射表面，角度可能更大。当倾斜角度增加时，收集信号的强度会减小。该表中的值是镜面上测得的;

.均匀性是由一个MPLS-DM传感器的180个通道在一个完美对齐平面上测量的值的变化量(RMS)。此功能在工厂校准后立即测量，并具有最佳的条件和设置;

.标配光谱共焦线传感器出厂都是按照最高2KHZ采样频率标定，如果需要使用4K或者6K采样频率，订货时请提前注明，同时注意采样频率提高后，测量范围会相应变小，详情可参考上面参数;

STIL光谱共焦线扫控制器技术规格

STIL光谱共焦线扫传感器测头和控制器外形尺寸

传感器探头外形（详见上述参数表）

控制器外形

STIL光谱共焦线扫传感器的相关软件

线传感器需要配备win7以上操作系统，SDK与传感器一起提供，包括：

-C++动态库源代码

-NET动态库

-“线传感器示例”程序

-传感器用户手册和操作说明

使用"线传感器"，可完成即时任务：

-连接传感器

-保存且加载配置文件

-改变传感器设置（LED强度、测量频率、触发选项...）

-启动测量，观察，保存数据

-执行用于校准

程序已显示模式：“线--线”和"图像",在图像模式下，每个板块的N行线，显示N*180大小的图像

在"Line sensor Example"中显示的"Line view"。180个橙色条表示测量距离，180个黑色条表示测量强度。

在"Line sensor Example"中显示的"Image view"。每个像素的颜色表示高度值。