NCG红外干涉传感器
红外干涉测量原理
NCG是基于红外干涉技术的测厚传感器,传感器发出的光波在被测物体不同表面进行反射,并发生干涉,由此可以计算出两个表面之间的厚度。该测量传感器可用于控制不同类型零件的厚度,包括玻璃、塑料和硅片。使用红外光源时,也可以测量非透明材料。我们的量仪可有效改善机床节拍,保证成品质量,并对关键步骤的全程及其前后进行过程控制。NCG是一种高速精密测量仪,可连接到机床上,以实现精确、快速的零件厚度控制。在技术资料规定范围内,NCG可以安装在夹具上,也可以安装在机床内,无论是干燥或潮湿环境中均可使用。
NCG光谱干涉传感器的优势
• 保证工件公差
• 优化加工节拍
• 保证并维持稳定的生产效率
• 补偿加工漂移
• 追踪加工过程
NCG控制器的技术规格
测量原理 | 干涉技术 |
测量类型 | 厚度、距离 |
光源 | SLED |
测量范围 |
S1 = 37~1850 µm S2 = 74~3700 µm T1 = 15~900 µm D2 = 60~3000 µm |
精度 | ≤ 1 µm |
轴向分辨率 | 30 nm |
通道 | 1 |
接口 |
Ethernet (10/100 Mbit) RS232 / RS422 (可选) |
网络连接 | 可连接 |
电源 | 12~24 Vdc (+20%/-15%) |
功率 | 30W |
防护等级 | IP40 |
重量 | 2.8KG |
尺寸(MM) | 127 (w) x 129 (h) x 255,5 (d) |
备注:以上测量范围是折射率为1时测得,不同样品,测量范围需要除以实际折射率
NCG控制器的外形尺寸
NCG光学测量头技术参数
无论是在清洁环境还是恶劣环境中,NCG光学探头都能获得最佳性能。即使在有离子水或其他侵蚀性物质的情况下也可以使用探头。每一个部件都经过测试,在振动、高温和潮湿的情况下也能可靠运行。机械布局可根据客户要求定制,用于测量零件厚度和距离。
测量类型 | 厚度测量 |
工作距离(WD)** | 1.6, 10, 100 mm |
光斑直径 | 18~30 µm |
横向分辨率 | 9~15 µm |
线性度 | < 0.1% (测量范围内) |
重复精度 | 0.1 µm |
与表面的角度 | 90˚± 2° |
光缆长度 |
3 / 4 m |
光缆弯曲半径 | 30 mm |
屏蔽光缆 | 可选 |
防护等级 | IP68/IP40 |
重量(不含光缆) | 915 g/80 g |
*也可选择距离测量型
**1.6 mm 距离用于IP68 防护等级的光学探头 (该探头可在去离子水存在时使用)
NCG光谱干涉传感器测量应用案例
• 不同类型的硅晶片、蓝宝石晶片的厚度测量
• 减薄机和研磨机的过程控制
• 薄层和厚层检测
• 薄膜厚度控制
塑料瓶厚度测量
硅晶片厚度测量
手机盖板玻璃厚度测量
抛光后的硅晶片和蓝宝石晶片厚度测量
薄玻璃 厚度测量
NCG是基于红外干涉技术的测厚传感器,传感器发出的光波在被测物体不同表面进行反射,并发生干涉,由此可以计算出两个表面之间的厚度。该传感器可用于控制不同类型零件的厚度,包括玻璃、塑料和硅片。使用红外光源时,也可以测量非透明材料。我们的传感器可有效改善机床节拍,保证成品质量,并对关键步骤的全程及其前后进行过程控制。NCG是一种高速精密测量传感器,可连接到机床上,以实现精确、快速的零件厚度控制。在技术资料规定范围内,NCG可以安装在夹具上,也可以安装在机床内,无论是干燥或潮湿环境中均可使用。