光谱共焦视觉检测相机

彩色共焦显微镜(STIL专利)检测原理图

 

STIL光谱共焦视觉检测系统有着双重作用:

-在所需的放大倍数下提供样品表面的高质量图像

-对图像进行处理,同时检测和分析一些预定义的特征或纹理

光谱共聚焦检测系统的优势

此技术结合线阵相机,形成了MC2视觉检测系统,完美解决了传统机器视觉在表面瑕疵检测的难点,具有明显优势:

-无需外接光源照明,光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源;

-环境光线的变化不影响成像效果,适应性强;

-适应所有的物体表面,无论是漫反射表面,镜面(高光面)或者透明物体表面;

-高达80KHZ的扫描速度,并可实现非常低的像素尺寸(最小像素可大0.2*0.2pm2);

-最高可至2.6mm的高景深,在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦,成像更为清晰,无需进行Z轴对焦;

 

光谱共聚焦相机外形尺寸

 

STIL光谱共焦相机(视觉检测系统)技术参数

型号 unit MC2 NanoView MC2 WireView MC2 Microview MC2 DeepView MC2 SuperView
线长 mm 1.3 1.51 1.79 4.05 12.5
景深 μm 100 500 500 2600 2000
工作距离 mm 4.6 7.8 10.1 47.8 11.3
放大率   17.3 15.6 12.9 5.6 1.8
数值孔径   0.7 0.75 0.5 0.35 0.32
最大样品斜率 ° 40 46 30 20 19
样品像素大小 μm 0.44 0.48 0.58 1.3 4.1
光学头:长度 mm 424 468.1 412.8 433.1 378
光学头:直径 mm 50 70 50 75 60
光学头:重量 g 5200 5800 5200 7000 5600

注:以上参数如有变化,恕不另行通知。

 

STIL光谱共焦相机应用案例

       复合材料比较

    复合材料比较

  字符缺陷的检测

玻璃瓶上的生产缺陷

晶圆边缘的生产缺陷

印刷线路板的生产缺陷

微构件的抛光缺陷

 零件抛光缺陷检测

 

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MC2-2
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MC2
彩色共焦显微镜(STIL专利)是一种允许设计具有非常大的聚焦深度(可达几毫米)的光学系统的技术。对于位于任何深度范围内的样本,这些系统提供了一个清晰,高质量和完美聚焦的图像。该技术结合了光谱编码和传统共聚焦显微镜的优点。光谱共聚焦显微镜由多色光源照射的裂缝、高质量光谱透镜、光束分离器、和一个4K线相机组成。
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