光谱共焦线扫传感器

光谱共焦线扫传感器WCLS提供了不可思议的高速3D检测效果，它能做到以每秒384,000次的频率进行纳米级精度的测量。得益于其一体化的设计，WCLS能够方便地集成入产线上的检测设备，包括恶劣的生产环境中。传感器出色的动态测量范围和信噪比使WCLS能够轻松地测量任何类型的材料-包括磨光和高度倾斜的表面。高性价比的WCLS传感器无疑是告诉3D检测的最佳选择。

 高速测量：2000条轮廓/秒，采样频率384,000个点/秒

技术参数