VIA晶圆深度测量

采用白光光谱干涉传感器,进行VIA晶圆深度测量

VIA晶圆-20171219150828_14072

晶圆深度测量3D形貌图

VIA晶圆-20171219150905_92320

深度测量2D形貌图

VIA晶圆-20171219150941_91938

Depth = 112.3 +/-0.4 μm

VIA晶圆-20171219151015_38471

Depth = 65.28 +/- 0.1 μm

20171219151029_22879

Depth = 87.28 +/- 0.6 μm

应用案例

Application

网站首页    半导体业应用    VIA晶圆深度测量