三维表面形貌测量仪
仪器基本信息
型号 | ST150 | ST400 | ST1400 | ST4000 | |
测量范围(mm) | X | 150(最大可选250) | |||
Y | 150(最大可选250) | ||||
Z | 0.15 | 0.4 | 1.4 | 4 | |
分辨率(μm) | X | 0.05 | |||
Y | 0.05 | ||||
Z | 0.007 | 0.017 | 0.05 | 0.11 | |
最大移动速度(mm/s) | X | 1000 | |||
Y | 1000 | ||||
最大扫描速度(mm/s) | X | 100 | |||
Y | 100 | ||||
高度方向精度(μm) | 0.025 | 0.055 | 0.12 | 0.25 | |
最小可测粗糙度Ra(μm) | 0.012 | 0.03 | 0.09 | 0.17 | |
最大载荷(kg) | 25 | ||||
机器重量(kg) | 350 | ||||
机器外观尺寸(mm) | 长 | 750 | |||
宽 | 800 | ||||
高 | 1400 | ||||
电源 | AC 220V | ||||
功率 | 300W | ||||
工作温度 | 5℃-40℃ | ||||
相对湿度 | 5%-80% HR 无冷凝 |
功能与特性
· 测量具有非破坏性,测量速度快,精度高;测量范围广,可测透明、半透明、金属材料、高漫反射、低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);
· 尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面,漫反射表面最大可达87度;
· 不受样品反射率的影响;
· 不受环境光的影响;
· 测量简单,样品无需特殊处理;
ST150型三维表面形貌测量仪,采用国际领先的光谱共焦技术,可实现对材料表面微米、次微米级粗糙度检测,并且可以进行2D轮廓/3D微观形貌扫描分析,具有测量精度高,速度快,便于携带,重复性好的优点,该仪器可用于测量大尺寸样品,软件功能含括了点测量、线测量、面测量以及编程等强大的功能,可选模块包括2D&3D粗糙度检测与分析、2D轮廓测量与3D形貌分析、平面度检测、共面度检测、平行度检测。