可搭配CCS PRIMA/CCS OPTIMA+控制器
控制器采样频率最高可达10KHZ
量程范围100um-24000um
精度最高可达到14nm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
根据实际测量需求，可选配单通道、双通道、四通道控制器
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的。

将共焦共焦原理和白光光谱干涉法完美结合
首次使机构震动对测量的结果不产生影像
不需要垂直扫描
达到亚纳米级分辨率，最小可测厚度 0.4 μm的透明体厚度
传感器自身原理可达纳米级分辨率
共焦可以保证点与点之间不出在相互干扰
超高测量精度，厚度测量时达到0.3nm分辨率,10nm 测量精度

OP系列传感器主要用于超大工作距离的环境，避免传感器受到损害
可搭配CCS PRIMA+控制器
采样频率最高可达2KHZ
量程范围220umm-20000um
安装距离5mm-451mm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的
推荐测量玻璃厚度的主要光学笔有:OP6000;OP8000;OP10000;NCTP

可搭配CCS PRIMA/CCS OPTIMA+控制器
采样频率100Hz-10KHZ
量程范围100umm-10000um
直径：4mm 、6mm、8mm
径向出光、轴向出光
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
根据实际测量需求，可选配单通道、双通道、四通道控制器
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的
适用于狭缝、盲孔、内腔测量

可搭配CCS PRIMA/CCS OPTIMA+控制器
采样频率最高可达10KHZ
量程范围1mm、2mm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
样品最大倾斜角可达±44度
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的
适用于3D曲面玻璃轮廓检测、点胶高度测量

搭配DUO控制器同步测量技术:共焦色散和白光光谱干涉法
采样频率100Hz-10KHZ
适用卤素灯
可以处理大量测量范围拥有从130μm- 42mm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
最多可以测量10层不同折射率透明或半透明样品
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的。

光谱共焦线扫传感器WCLS提供了不可思议的高速3D检测效果，它能做到以每秒384,000次的频率进行纳米级精度的测量。得益于其一体化的设计，WCLS能够方便地集成入产线上的检测设备，包括恶劣的生产环境中。