可搭配CCS PRIMA/CCS OPTIMA+控制器
控制器采样频率最高可达10KHZ
量程范围100um-24000um
精度最高可达到14nm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
根据实际测量需求，可选配单通道、双通道、四通道控制器
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的。

将共焦共焦原理和白光光谱干涉法完美结合
首次使机构震动对测量的结果不产生影像
不需要垂直扫描
达到亚纳米级分辨率，最小可测厚度 0.4 μm的透明体厚度
传感器自身原理可达纳米级分辨率
共焦可以保证点与点之间不出在相互干扰
超高测量精度，厚度测量时达到0.3nm分辨率,10nm 测量精度

OP系列光谱共焦传感器主要用于超大工作距离的环境，避免传感器受到损害
可搭配CCS PRIMA+控制器
采样频率最高可达2KHZ
量程范围220umm-20000um
安装距离5mm-451mm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的
推荐测量玻璃厚度的主要光学笔有:OP6000;OP8000;OP10000;NCTP

可搭配CCS PRIMA/CCS OPTIMA+控制器
采样频率100Hz-10KHZ
量程范围100umm-10000um
直径：4mm 、6mm、8mm
径向出光、轴向出光
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
根据实际测量需求，可选配单通道、双通道、四通道控制器
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的
适用于狭缝、盲孔、内腔测量

可搭配CCS PRIMA/CCS OPTIMA+控制器
采样频率最高可达10KHZ
量程范围1mm、2mm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
样品最大倾斜角可达±44度
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的
适用于3D曲面玻璃轮廓检测、点胶高度测量

搭配DUO控制器同步测量技术:共焦色散和白光光谱干涉法
采样频率100Hz-10KHZ
适用卤素灯
可以处理大量测量范围拥有从130μm- 42mm
传感器由三部分组成：控制器、光纤、测头
最多可以测量10层不同折射率透明或半透明样品
光纤线可选配普通型或者铠甲护套型的。

光谱共焦线扫传感器WCLS提供了不可思议的高速3D检测效果，它能做到以每秒384,000次的频率进行纳米级精度的测量。得益于其一体化的设计，WCLS能够方便地集成入产线上的检测设备，包括恶劣的生产环境中。

NCG是基于红外光谱干涉技术的测厚传感器，传感器发出的光波在被测物体不同表面进行反射，并发生干涉，由此可以计算出两个表面之间的厚度。该传感器可用于控制不同类型零件的厚度，包括玻璃、塑料和硅片。使用红外光源时，也可以测量非透明材料。我们的传感器可有效改善机床节拍，保证成品质量，并对关键步骤的全程及其前后进行过程控制。NCG是一种高速精密测量传感器，可连接到机床上，以实现精确、快速的零件厚度控制。在技术资料规定范围内，NCG可以安装在夹具上，也可以安装在机床内，无论是干燥或潮湿环境中均可使用。

彩色共焦显微镜(STIL专利)是一种允许设计具有非常大的聚焦深度(可达几毫米)的光学系统的技术。对于位于任何深度范围内的样本，这些系统提供了一个清晰，高质量和完美聚焦的图像。该技术结合了光谱编码和传统共聚焦显微镜的优点。光谱共聚焦显微镜由多色光源照射的裂缝、高质量光谱透镜、光束分离器、和一个4K线相机组成。

高速测量(30000点/秒)
由千兆以太网进行数据传输
高分辨率，高精度
可测量任何材料
对外部环境光线不敏感
最大线率是2000lines/秒
由180个点投射到样品表成为一条线

多达48个同步测量点
适合用于任何环境
适用于STIL各种类型的光笔测头