测量过程

透镜组测量数据，可同时获取每个镜片的厚度，包括透镜间的空气隙

光谱层析测厚仪操作十分简单，测量数据可靠。

(1)光谱层析测厚仪OTG系统包括一个光源LED(SELDE)、干涉仪组件和数字信号处理器（DSP)，这些租几间都安装在坚固的机箱内。

(2)通过柔性光纤连接到OTG系统的光学测头，将来自SLED的光发射到被测材料上。

(3)被测材料的反射信号被光学测头收集，并返回到OTG系统的反射仪进行分析。

(4)厚度数据通过数字信号处理器计算，并通过USB或以太网接口传输到PC电脑。

(5)基于Windows的光学测厚软件可设置测量参数，输出各种格式的厚度测量数据。

光学测头选型

与光谱层析测厚仪配套使用的光学测头将光找到被测样品，并将反射信号返回到主机中进行干涉分析。Bristol Instruments为不同的厚度测量应用提供了多种光学测头。

QAP快速对准相机测头

可用于研发、质量控制和生产前应用。光学测头的准确对准至关重要，但可能对某些应用来说对准具有一定的难度。因此，Bristol Instruments提供了一种光学测头，其中包括一个内置的视觉辅助设备，大大简化了对准过程。 QAP测头集成了可视化的相机，从而定位被测材料上反射的光学信号位置。通过光学如见可显示获取的相机图像，以显示反射信号和目标的相对位置。有了这个视觉反馈，更容易进行调整以找准测量位置，从而实现被测样品的找中过程。此外，快速对准想i测头有一个较广的视场角，使其对准过程更容易。

(A)反射信号（白点）不在目标上，测头未对准。

(B)反射信号在目标上，系统已准备好测量。

P型光学测头

可集成到用户设备装置中用于生产 这些光学测头的性能与快速对准相机测头相同，但没有集成相机。利用光学软件反射峰图上显示的信号实现并优化对准。

LP“铅笔”型光学测头

应用于空间受限的场合 该光学测头直径较小（＜0.75"）,可用于狭小的空间。它海允许多个测头彼此非常接近。利用光学软件反射峰图上显示的信号实现并优化对准。